二次元影像式测绘仪VMS-1510G该仪器适用于以二坐标测量为目的的一切应用领域，在机械、电子、仪表、塑胶等行业被广泛使用。
全自动影像测量仪FiScherSCOp®X—RAYSystemXDL®—B及XDLM®—C4是采用技术标准ASTM及B568，DIN60987，ISO3497的X一射线荧光分析法来进行测量，下但可以测量金属层厚度及金属之间的比重，还可以进行金属物料分析。
FiScherSCOp®X—RAYSystemXDL®—B及XDLM®—C4是采用技术标准ASTM及B568，DIN60987，ISO3497的X一射线荧光分析法来进行测量，下但可以测量金属层厚度及金属之间的比重，还可以进行金属物料分析。
FiScherSCOp®X—RAYSystemXDL®—B及XDLM®—C4是采用技术标准ASTM及B568，DIN60987，ISO3497的X一射线荧光分析法来进行测量，下但可以测量金属层厚度及金属之间的比重，还可以进行金属物料分析。
