全自动影像测量仪FiScherSCOp®X—RAYSystemXDL®—B及XDLM®—C4是采用技术标准ASTM及B568，DIN60987，ISO3497的X一射线荧光分析法来进行测量，下但可以测量金属层厚度及金属之间的比重，还可以进行金属物料分析。
FiScherSCOp®X—RAYSystemXDL®—B及XDLM®—C4是采用技术标准ASTM及B568，DIN60987，ISO3497的X一射线荧光分析法来进行测量，下但可以测量金属层厚度及金属之间的比重，还可以进行金属物料分析。
FiScherSCOp®X—RAYSystemXDL®—B及XDLM®—C4是采用技术标准ASTM及B568，DIN60987，ISO3497的X一射线荧光分析法来进行测量，下但可以测量金属层厚度及金属之间的比重，还可以进行金属物料分析。
FiScherSCOp®X—RAYSystemXDL®—B及XDLM®—C4是采用技术标准ASTM及B568，DIN60987，ISO3497的X一射线荧光分析法来进行测量，下但可以测量金属层厚度及金属之间的比重，还可以进行金属物料分析。
