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影像式测绘仪(三次元)
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CPJ-300AZ系列正像投影仪
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产品中心

  • 全自动影像测量仪
    全自动影像测量仪

    全自动影像测量仪FiScherSCOp®X—RAYSystemXDL®—B及XDLM®—C4是采用技术标准ASTM及B568,DIN60987,ISO3497的X一射线荧光分析法来进行测量,下但可以测量金属层厚度及金属之间的比重,还可以进行金属物料分析。

    更新时间:2020-11-27 浏览量:671
  • 全自动光学影像测量仪
    全自动光学影像测量仪

    FiScherSCOp®X—RAYSystemXDL®—B及XDLM®—C4是采用技术标准ASTM及B568,DIN60987,ISO3497的X一射线荧光分析法来进行测量,下但可以测量金属层厚度及金属之间的比重,还可以进行金属物料分析。

    更新时间:2020-11-27 浏览量:660
  • 复合型影像测量仪
    复合型影像测量仪

    FiScherSCOp®X—RAYSystemXDL®—B及XDLM®—C4是采用技术标准ASTM及B568,DIN60987,ISO3497的X一射线荧光分析法来进行测量,下但可以测量金属层厚度及金属之间的比重,还可以进行金属物料分析。

    更新时间:2020-11-27 浏览量:605
  • X-谢线镀层测厚及金属分析仪/萤光X线膜厚计
    X-谢线镀层测厚及金属分析仪/萤光X线膜厚计

    FiScherSCOp®X—RAYSystemXDL®—B及XDLM®—C4是采用技术标准ASTM及B568,DIN60987,ISO3497的X一射线荧光分析法来进行测量,下但可以测量金属层厚度及金属之间的比重,还可以进行金属物料分析。

    更新时间:2020-11-27 浏览量:960
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