全自动影像测量仪FiScherSCOp®X—RAYSystemXDL®—B及XDLM®—C4是采用技术标准ASTM及B568,DIN60987,ISO3497的X一射线荧光分析法来进行测量,下但可以测量金属层厚度及金属之间的比重,还可以进行金属物料分析。
FiScherSCOp®X—RAYSystemXDL®—B及XDLM®—C4是采用技术标准ASTM及B568,DIN60987,ISO3497的X一射线荧光分析法来进行测量,下但可以测量金属层厚度及金属之间的比重,还可以进行金属物料分析。
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